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          北京億誠恒達(dá)科技有限公司

          主營:電化學(xué)工作站,摩擦磨損試驗機(jī)
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          [供應(yīng)]原子力-倒置顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng)
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          • 產(chǎn)品產(chǎn)地:瑞士
          • 產(chǎn)品品牌:Nanosurf
          • 包裝規(guī)格: FLEXAFM
          • 產(chǎn)品數(shù)量:0
          • 計量單位:
          • 產(chǎn)品單價:0
          • 更新日期:2018-11-09 15:07:53
          • 有效期至:2028-11-06
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          原子力-倒置顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng) 詳細(xì)信息

          原子力-倒置顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng) 

          原子力-倒置顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng),適用于所有對光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡聯(lián)用能力感興趣的客戶。這套系統(tǒng)包括一個通用的FlexAFM倒置光學(xué)顯微鏡樣品臺,一個顯微鏡特定的樣品適配器,針對不同的顯微鏡(例如,Zeiss或者Olympus),和FlexAFM照明修正光學(xué)器件。

          原子力-倒置顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng)主要特點是: 
          ?針對ZeissAxiovert/AxioObserver,OlympusIX2,NikonEclipseTi,和LeicaDMI系列顯微鏡的連接適配器。其他型號倒置光學(xué)顯微鏡可根據(jù)型號定制。 
          ?直觀的操作,由于原子力圖像和倒置光學(xué)顯微鏡的光學(xué)視場有著相同的方位。
          ?懸垂臂在光學(xué)視場中的對中是通過原子力顯微鏡掃描頭在X和Y方向上的獨立運(yùn)動,原子力掃描軸和光學(xué)圖像軸有1mm平行的距離。
          ?對準(zhǔn)芯片技術(shù),消除了更換懸垂臂后在光學(xué)圖像中從新進(jìn)行懸垂臂對中的需要。
          ?樣品定位在X和Y方向有12mm行程。
          ?樣品座可適應(yīng)顯微鏡載物片和培養(yǎng)皿。
          ?可能使用高數(shù)值孔徑透鏡與蓋玻片底培養(yǎng)皿結(jié)合。

          應(yīng)用
          倒置光學(xué)顯微鏡和AFM成像聯(lián)用,提供了獨特的機(jī)會使光學(xué)數(shù)據(jù)(例如相對比或者熒光數(shù)據(jù))可以和高分辨率形貌圖像和力學(xué)數(shù)據(jù)結(jié)合,這些數(shù)據(jù)只有AFM能提供。

          由于FlexAFM的開放式光路設(shè)計結(jié)構(gòu),光線能通過FlexAFM幾乎不受妨礙,并且懸垂臂支架SA特殊的SureAlign?光學(xué)設(shè)計使FlexAFM在液體測試環(huán)境中操作變得簡單方便,無需再進(jìn)行激光的對中。與倒置光學(xué)顯微鏡選件聯(lián)用后,F(xiàn)lexAFM因而變成了在生理學(xué)環(huán)境中細(xì)胞成像和描述特征的理想裝置。在這個例子中,活的Rat-2纖維原細(xì)胞被成像。 

          FlexAFM和倒置光學(xué)顯微鏡聯(lián)用的應(yīng)用當(dāng)然不限于生命科學(xué)。下面的樣品被展示,有涂層的玻璃樣品被分析通過光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡。AFM提供了更高分辨率數(shù)據(jù)在觀測的區(qū)域上,并解釋了在光學(xué)顯微鏡里看到結(jié)構(gòu)的本性。它也能用于涂層厚度測定。

          皮氏培養(yǎng)皿里德細(xì)胞圖像:(左)倒置光學(xué)顯微鏡的相對比圖,通過一個FlexAFM裝置和倒置光學(xué)顯微鏡選件,顯示活的Rat-2纖維原細(xì)胞和AFM懸垂臂在細(xì)胞培養(yǎng)基里。(右)在相同裝置下細(xì)胞的AFM圖像,顯示了Rat-2細(xì)胞骨架的細(xì)節(jié),這是容易辨別的穿過這些細(xì)胞的細(xì)胞膜。AFM圖像尺寸:70μm×60μm。

          有涂層玻璃的相對比(上方)和AFM圖像(下方)。在光學(xué)顯微鏡中觀測到的是相似紋理的結(jié)構(gòu)(例如橢圓形內(nèi)部)相對應(yīng)的涂層中的孔洞,作為例證通過AFM測量。他們提供一個一流的方法測定涂層的厚度,這個例子等于40nm。AFM圖像尺寸:90μm×35μm。

          原子力顯微鏡與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡聯(lián)用技術(shù):
          ?針對ZeissAxiovert/AxioObserver,OlympusIX2,NikonEclipseTi,和LeicaDMI系列顯微鏡的連接適配器。其他型號倒置光學(xué)顯微鏡可根據(jù)型號定制。
          ?直觀的操作,由于原子力圖像和倒置光學(xué)顯微鏡的光學(xué)視場有著相同的方位。
          ?懸垂臂在光學(xué)視場中的對中是通過原子力顯微鏡掃描頭在X和Y方向上的獨立運(yùn)動,原子力掃描軸和光學(xué)圖像軸有1mm平行的距離。
          ?對準(zhǔn)芯片技術(shù),消除了更換懸垂臂后在光學(xué)圖像中從新進(jìn)行懸垂臂對中的需要。
          ?樣品定位在X和Y方向有12mm行程。
          ?樣品座可適應(yīng)顯微鏡載物片和皮氏培養(yǎng)皿。
          ?可能使用高數(shù)值孔徑透鏡與蓋玻片底培養(yǎng)皿結(jié)合。

          倒置光學(xué)顯微鏡要求
          ?一個10×和/或20×透鏡。
          ?一個長焦距聚光器(65mm焦距或更長)。
          ?無倒置光學(xué)顯微鏡樣品臺(替換成FlexAFM倒置光學(xué)顯微鏡選件;保證測量的穩(wěn)定性和減少采購倒置光學(xué)顯微鏡的費用)。

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