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          青島帝中計量儀器有限公司

          主營:測量投影儀/工具顯微鏡/表面粗糙度儀/涂層測厚儀/色差計/光澤計
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          [供應]供應三豐粗糙度輪廓測量儀一級代理商
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          • 產(chǎn)品產(chǎn)地:日本三豐
          • 產(chǎn)品品牌:日本三豐
          • 包裝規(guī)格:SV-C3100/4100
          • 產(chǎn)品數(shù)量:10
          • 計量單位:臺
          • 產(chǎn)品單價:0
          • 更新日期:2014-09-29 09:11:19
          • 有效期至:2015-09-29
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          供應三豐粗糙度輪廓測量儀一級代理商 詳細信息

          產(chǎn)品簡介
          三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅(qū)動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進一步減少了總的測量時間。為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌

          詳細介紹



          Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3100/SV-C4100 

          簡單介紹 
          三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅(qū)動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進一步減少了總的測量時間。
          為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌;驅(qū)動器 (X 軸) 和立柱 (Z2 軸) 均配備了高精度線形編碼器 (其中Z2 軸上為ABS 型)。因此,在垂直方向?qū)π】走B續(xù)自動測量、對較難定位部件的重復測量的重復精度得以提高。 

          特長:
          本機為電動型支柱,觸針式輪廓形狀、表面粗度量測兩用的復合機。
          輪廓形狀量測用Z軸檢出器搭載Holographic光學尺(SV-C4100)、反射型光學尺(SV-C3100)。
          表面粗度量測用Z軸檢出裝置,可對應ISO/新JIS。
          檢出器的滑動部為2段式,可提升檢出器交換時的操作性。
          資料處理軟體,可做高難度的輪廓形狀、粗度的評價解析。
          資料處理裝置的通訊系統(tǒng)使用RS-232C。 

          表面粗糙度測量

          直線度:±(0.05+0.001L)μm*專用于需要高精度測量的工件。

          *S4型、H4型、W4型;L為驅(qū)動長度(mm)

          符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的國際標準。

          標準配置:高精度測頭(0.75mN/4mN測力),分辨率高至0.0001μm。

           

          自動測量

          在與CNC機型配套使用的眾多外設選件的支持下,可實現(xiàn)自動測量。

           

          輪廓驅(qū)動測量

          X軸精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1軸精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*專用于需要高精度測量的工件。

          *SV-C4100S4型、H4型、W4型;L為驅(qū)動長度,H為測量高度(mm)

          SV-C4100系列的輪廓驅(qū)動器配備了激光全息測微計測頭,Z1軸寬/窄范圍均能達到極高的精度和分辨率。

           

          基本技術(shù)參數(shù):

          基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm

          基座材料:花崗巖

          重量

           主機:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)

          140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)

           控制器:14kg

           遙控箱:0.9kg

          電源:100–240VAC±10%,50/60Hz

          能耗:400W(主機)

           

          輪廓測量技術(shù)參數(shù):

          X軸

           測量范圍:100mm或200mm

           分辨率:0.05μm

           檢測方法:反射型線性編碼器

           驅(qū)動速度:80mm/s、外加手動

           測量速度:0.02-5mm/s

           移動方向:向前/向后

           直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm

          *以X軸為水平方向上

           直線位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)

           精度(20°C時)±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)

          ±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)

          ±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)

          *L為驅(qū)動長度(mm)

           傾角范圍:±45°

          Z2軸(立柱)

           垂直移動:300mm或500mm

           分辨率:1μm

           檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器

           驅(qū)動速度:0-20mm/s、外加手動

          Z1軸(檢測器)

           測量范圍:±25mm

           分辨率:0.2μm(SV-C3100),

           0.05μm(SV-C4100)

           檢測方法:線性編碼器(SV-C3100),

           激光全息測微計(SV-C4100)

           直線

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