|回收出售日置C測試儀3504-40-高速測量2ms

封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
●高速測量2ms
●能根據(jù)C和D（損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷
●對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
●3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
●3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試
●查出全機(jī)測量中的接觸錯誤，提高成品率
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如示波器、頻譜儀、萬用表、網(wǎng)絡(luò)分析儀、無線測試儀、藍(lán)牙測試儀等！
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基本參數(shù)
測量參數(shù)   Cs，Cp（電容），D（損耗系數(shù)tanδ）
測量范圍   C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本精度   （代表值）C:±0.09%rdg.±10dgt.，D:±0.0016
※測定精度=基本精度×B×C×D×E，B～E為各系數(shù)
測量頻率   120Hz，1kHz
測量信號電平   恒壓模式:100mV(僅限3504-60)，500mV，1V
測量范圍:
CV100mV:～170μF量程(測量頻率1kHz)，～1.45mF量程(測量頻率120Hz)
CV500mV:～170μF量程(測量頻率1kHz)，～1.45mF量程(測量頻率120Hz)
CV1V:～70μF量程(測量頻率1kHz)，～700μF量程(測量頻率120Hz)
輸出電阻   5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時）
顯示   發(fā)光二級管（6位表示，滿量程計算器根據(jù)量程而定）
測量時間   典型值:2.0ms（1kHz，F(xiàn)AST）
※測量時間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同
功能   BIN分類測量(3504-40除外)，觸發(fā)同步輸出，測量條件記憶，測量值的比較功能，平均值功能，Low-C篩選功能，振動功能，控制用輸出輸入(EXT.I/O)，RS-232C接口（標(biāo)配)，GP-IB接口(3504-40除外)
電源   AC100/120/220/240V±10%（可選擇），50/60Hz，最大110VA
體積及重量   260W×100H×220Dmm，3.8kg