托普植物冠層分析儀（葉面積指數(shù)儀）

儀器型號：TOP-1300型（適用于高的植株）

托普植物冠層分析儀儀器用途：

植物冠層分析儀可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內外的光合有效輻射（PAR）等。廣泛應用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農林業(yè)科研工作。

托普植物冠層分析儀功能特點：

1、無損測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角以及冠層結構。

2、探頭體積小巧，裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結構。

3、攝像頭可自動保持水平。

4、USB接口，測量時連接電腦實時查看圖像，即時選取所需圖像并保存。

5、外接大容量鋰電池，適用于野外工作和長時間測量。

6、測量冠層不同高度，可得到群體內光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。

7、配有專用分析軟件，有選擇所需圖像區(qū)域的功能（天頂角可分10區(qū)，方位角可分10區(qū)），可屏蔽不合理的冠層部分，僅對有效圖像區(qū)域進行分析，使測量數(shù)據(jù)更加精確。

托普植物冠層分析儀技術參數(shù)：

鏡頭角度：150°（特殊需求可自選180°鏡頭）

分  辨  率：768×494pix

測量范圍：天頂角由0°～75°（可分割成十個區(qū)域）；

                    方位角360°（可分割十個區(qū)域）

PAR感應范圍：感應光譜400nm～  700nm

測量范圍：0～2000μmol/㎡·S

電        源：7.4V鋰電池組

傳輸接口：USB

工作溫度：0～55℃

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