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          北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司

          主營(yíng):技術(shù)開(kāi)發(fā)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)服務(wù)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、銷售儀器儀表
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          [供應(yīng)]BKTEM-Dx熱電材料塞貝克系數(shù)測(cè)試儀
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          • 產(chǎn)品產(chǎn)地:北京
          • 產(chǎn)品品牌:中科大
          • 包裝規(guī)格:BKTEM-Dx
          • 產(chǎn)品數(shù)量:0
          • 計(jì)量單位:
          • 產(chǎn)品單價(jià):0
          • 更新日期:2023-11-15 11:56:17
          • 有效期至:2033-11-12
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          BKTEM-Dx熱電材料塞貝克系數(shù)測(cè)試儀 詳細(xì)信息

            BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀,熱電材料塞貝克系數(shù)測(cè)試儀

          關(guān)鍵詞:熱電材料,Seebeck系數(shù),電導(dǎo)率,電阻率,V-1裝置

          產(chǎn)品介紹:

           BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀是我國(guó)熱電材料的領(lǐng)軍設(shè)備,是國(guó)家材料計(jì)

          劃中最前沿裝備,是我國(guó)科研人員幾十年的精心參與和設(shè)計(jì)出來(lái)的熱電材料

          測(cè)試儀,其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越國(guó)內(nèi)外熱電材料測(cè)試儀,不僅可以用于塊體材

          料同時(shí)也可以用于薄材料的測(cè)試,是目前國(guó)內(nèi)高等院校和材料研究所的重要設(shè)

          備。

          對(duì)于熱電材料的研究,熱電性能測(cè)試是不可或缺的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下:

          該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過(guò)PID程序控溫,采用四點(diǎn)法的方式精確測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

          一、適用范圍:

          1、精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

          3、塊體和薄膜材料測(cè)均可以測(cè)試。

          4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

          5、擁有自身專利分析軟件,獨(dú)立分析,過(guò)程自動(dòng)控制,界面友好。

          6、國(guó)內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。

          7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
          8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域.

          二、技術(shù)特點(diǎn):

          ·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問(wèn)題,靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

          ·    溫度檢測(cè)可采用J、K型熱電偶,降低測(cè)試成本。

          ·試樣采用獨(dú)特的焊偶機(jī)構(gòu),保證接觸電阻最小以及測(cè)量結(jié)果的高重現(xiàn)性。

          ·    每次可測(cè)試1-3個(gè)樣品.

          ·    采用高級(jí)數(shù)據(jù)采集技術(shù),避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差,可控溫場(chǎng)下同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率。

          三、主要技術(shù)參數(shù):

          BKTEM-D1

          BKTEM-D2

          BKTEM-D3

          測(cè)量溫度

          室溫-600℃

          室溫-600℃

          室溫-600℃

          同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量

          1個(gè)

          2個(gè)

          3個(gè)

          控溫精度

          0.5K(溫度波動(dòng):≤±0.1℃)

          測(cè)量原理

          塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流電;電阻系數(shù):四端法

          測(cè)量范圍

          塞貝克系數(shù):0.5μV/K_25V/K;電阻系數(shù):0.2Ohm-2.5KOhm

          分辨率

          塞貝克系數(shù):10nV/K電阻系數(shù):10nOhm

          測(cè)量精度

          塞貝克系數(shù):<±6%;電阻系數(shù):<±5%

          樣品尺寸

          塊體方條形:2-3×2-3mm×10-23mm長(zhǎng),薄膜材料:≥50nm

          熱電偶導(dǎo)距

          ≥6mm

          電  流

          0to160mA

          氣  氛

          減壓He

          加熱電極相數(shù)/電壓

          單相,220V,

          夾具接觸熱阻

          ≤0.05m2K/W


          圖1單一樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖

          圖2雙樣品測(cè)試系統(tǒng)原理示意圖

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